共用装置 | ARIM, Japan

機器概要

・試料にＸ線を照射した際、Ｘ線が原子の周りにある電子によって散乱、干渉した結果起こる回折を解析。結晶構造にX線を照射すると格子面でX線が反射され、それぞれが干渉し合い、回折線が発生、検出される。
対象試料：無機・有機物質の粉末、高分子材料、タンパク質、金属部品、有機・無機薄膜半導体、エピタキシャル膜、コロイド粒子など

メーカー	Rigaku
型番	SmartLab
装置番号	YG-601

利用料金

(単位：円/１時間)

ARIM（利用報告書有）	使用種別	学術機関	企業
データ提供有	機器利用	1,500	2,200
	補助・代行	3,000	4,300
データ提供無	機器利用	2,500	3,600
	補助・代行	5,000	7,200

ARIM外	使用種別	学術機関	企業
成果報告書無、データ提供無	機器利用	3,100	4,500
	補助・代行	6,300	9,000

装置担当者

担当者	工学部准教授　宮田　剣
HP, 紹介動画等	山形大学宮田研究室